早鳥優惠!! 敬邀11/17【2011 全國AOI論壇與展覽】
線上報名 11月11日截止報名;Early Bird優惠!10月31日前完成線上報名,一律適用會員價1,500元
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AOIEA個人會員免費入會網址《連結》http://aoiea.itri.org.tw/member/join_step1.aspx
2011 Taiwan AOI Forum & Show
產業趨勢專題演講 │ 設備一哥高峰座談 │ 40項前瞻AOI檢測技術發表 │ 30 Booths元件模組展示
歷屆規模與效益均受各方肯定的AOI論壇活動,今年持續盛會模式,仍將有產業趨勢專題演講、前瞻技術發表研討、以及供應商元件模組展示。除此之外,本次別開生面將有標竿企業經驗分享,邀請致茂、德律、均豪等企業主管座談,期能有助AOI後進企業踏穩步伐邁向國際。
均豪 面板設備龍頭-均豪,談成本降低之道 致茂 FinanceAsia台灣最佳中型企業-致茂,拓展新市場
德律 德律與國際領導品牌之巔峰交戰經驗 新商機之營運觀點
主協辦單位:自動光學檢測設備聯盟、工業技術研究院、台灣電子設備協會、電腦視覺監控產學研聯盟
日   期:1001117日(星期四)
地   點:新竹市大學路1號,交通大學電子資訊中心大樓
費   用:每人NT$2,000優惠AOIEA會員每人NT$1,500(請先入會再報名)
議   程:
 
國際會議廳
第四會議室
第一會議室
09:30 ~ 09:45
開場致詞(第四會議室上午同步轉播)
 
09:45 ~ 10:30
專題演講
觸控產業發展與設備商機
經濟部精機小組余子瀚經理
 
10:30 ~ 10:50
休息
 
10:50 ~ 12:00
企業座談
AOI企業站穩腳跟邁向國際
致茂電子曾一士總經理、均豪精密陳政興副總經理、德律科技溫光溥資深經理
 
12:00 ~ 14:00
用餐
 
半導體/晶粒檢測
中原大學機械系章 明教授 
惠特科技研發處洪育民副處長
FPD檢測
宏瀨科技研發處詹方興處長
工研院量測中心莊凱評博士
生醫/太陽光電檢測
元智大學工管系蔡篤銘教授
友達光電設備處溫孟川處長
14:00 ~ 14:15
大面積同軸視覺掃描模組
E05,工研院南分院雷射中心/林于中
具自動對焦之三維形貌及膜厚量測模組之研製
A03,工研院量測中心/賴皇文
頻閃式光學映射系統之研製
B03,北科大自動化所/張偉倫
14:15 ~ 14:30
3D雷射感測器
F01,碁仕科技/周坤仁
白光干涉儀
F04,台智精密/陳燦林
高畫質擷取卡
F02,圓剛科技/蘇鴻昇
14:30 ~ 14:45
結構光條紋視覺系統表面量測
A04,中華大學機械系/白紹翊
基於SSE2指令集之機器視覺函式庫
C01,台卝科大自動化所/黃建量
數位光學-景深擴展技術
B02/E04,工研院電光所/張銓仲
14:45 ~ 15:00
3D量測在半導體領域之應用
F06,新亞洲儀器/劉雅光
運動控制器
F03,美商艾羅德克/葉惟仁
Basler GigE Camera Series
F05,新加坡Basler/Chong Yoon Foo
15:00 ~ 15:15
休息
休息
休息
15:15 ~ 15:30
數位干涉顯微鏡之相位移誤差利用軟體式演算法改良
A01,中正大學機械所/陳泓元
背光滑鼠瑕疵檢測系統
D01,育達科大多媒體系/陳柏安
牙線棒瑕疵自動光學檢測之研究
D02,高雄應科大機械系/陳建元
15:30 ~ 15:45
閃頻偏極化干涉顯微鏡於三維輪廓量測
A02,中正大學光機電所/陳泓元
R2R UV光學膜厚度量測技術
A07/E01,工研院量測中心/陳俊賢
太陽能板表面微裂痕檢測
D03,清華大學動機所/楊家翎
15:45 ~ 16:00
運用數位微鏡晶片之全域式彩色共焦顯微量測系統研發
A05,北科大自動化所/張奕威
雙面微柱狀膜片的對位檢測方法與對位圖案分析
C06/E02,工研院量測中心/董書屏
太陽能模組EL瑕疵檢測
D04,惠特科技/林敬祐
16:00 ~ 16:15
應用線陣列光機取像裝置與二值化邊緣影像之晶片瑕疵檢測系統
D06,國研院儀科中心/陳銘福
二維濾鏡式彩色分析儀的光源特性量測應用
B01,工研院量測中心/卓嘉弘
應用在太陽能電池上的花紋檢測技術
D05,致茂電子/鄭文瑋
16:15 ~ 16:30
 
多功能三維長景深真實色彩影像顯微鏡
C02,致茂電子/林思延
影像去迴旋積技術之奈米尺度線寬檢測
A09,中原大學機械系/陳柏呈
註:新技術發表編號為AE,新產品發表編號為F;發表項目標示,將於現場Booths展示
洽詢電話:(03)574-3813573-2225AOIEA秘書處